| 照片 | 名称 | 描述 | 品牌 |
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1465C/D/F/H/L信号发生器 |
1465C/D/F/H/L信号发生器 频率范围覆盖100kHz～20GHz/20GHz/40GHz/50GHz/67GHz 最高输出功率1W@20GHz 功率动态范围150dB 单边带相位噪声（10GHz载波@10kHz频偏）-126dBc/Hz |
中电科思仪 |
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1466-V系列矢量信号发生器 |
新产品 1466-V系列信号发生器 频率范围6kHz～13GHz/20GHz/33GHz/45GHz/53GHz/67GHz 射频调制带宽2GHz 单边带相位噪声（典型值，10GHz载波@10kHz频偏）-132dBc/Hz 最高输出功率+20dBm 最小输出功率-120dBm |
中电科思仪 |
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1466系列信号发生器 |
新产品 1466系列信号发生器 频率范围6kHz～13GHz/20GHz/33GHz/45GHz/53GHz/67GHz/90GHz/110GHz 底部噪声（典型值，20GHz@30kHz频偏）-116dBc/Hz 单边带相位噪声（典型值，10GHz@10kHz频偏）-132dBc/Hz 最高输出功率+20dBm 最小输出功率-120dBm |
中电科思仪 |
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THA-380M60G / THA-380M70G TEM喇叭天线 |
TEM喇叭天线是为了评估来自手机、Wi-Fi设备等无线发射机的电磁波抗扰 度（近场电磁场）而采用的天线。 |
NOISEKEN |
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Langer PA 203 BNC set前置放大器 | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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Langer PA 203 SMA set 前置放大器 | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 BNC set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器 PA 303 SMA set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 N set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 306 SMA set | PA306型前置放大器用于放大测量信号，例如高分辨率的近场探头的微弱信号。 | Langer EMV |
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磁场探头 SX-R 20-1 set | SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。 | Langer EMV |
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近场探头组 SX1 set | SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组XF1 set | XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。 | Langer EMV |
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近场探头组RF2 set | RF 2近场探头组包含4个无源磁场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的磁场，频率范围为30MHz到3GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组 RF 1 set | RF 1近场探头组包含4个无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为30MHz到3GHz。 | Langer EMV |
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FLS 106 PCB set扫描仪 | Langer EMV | |
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FLS 106 IC set扫描仪 | FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 | Langer EMV |
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ICS 105 set扫描仪 | ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。 | Langer EMV |
