| 照片 | 名称 | 描述 | 品牌 |
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Langer PA 203 SMA set 前置放大器 | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 BNC set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器 PA 303 SMA set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 N set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 306 SMA set | PA306型前置放大器用于放大测量信号，例如高分辨率的近场探头的微弱信号。 | Langer EMV |
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磁场探头 SX-R 20-1 set | SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。 | Langer EMV |
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近场探头组 SX1 set | SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组XF1 set | XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。 | Langer EMV |
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近场探头组RF2 set | RF 2近场探头组包含4个无源磁场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的磁场，频率范围为30MHz到3GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组 RF 1 set | RF 1近场探头组包含4个无源近场探头，用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为30MHz到3GHz。 | Langer EMV |
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FLS 106 PCB set扫描仪 | Langer EMV | |
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FLS 106 IC set扫描仪 | FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 | Langer EMV |
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ICS 105 set扫描仪 | ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。 | Langer EMV |
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ISS-7600系列ISO标准瞬态脉冲模拟器 | ISO标准 车载电子抗扰度测试系统，再现国际标准ISO 7637-2（2011年度版）里要求的车辆内各种瞬变浪涌现象、评价搭载电子设备耐性的模拟器 | NOISEKEN |
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INS-S220 / S420高频噪声模拟器 | INS-S220 / S420用于模拟类似开关元件触点之间的放电，电子马达产生的电弧放电等，上升时间很快，高频率的噪声，评价设备的抗扰能力。 | NOISEKEN |
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VDS-2002电压跌落及升高模拟试验器 | VDS-2002满足EN/IEC61000-4-11:第3版（2020）标准。评价连接到低电压电源电路网的电及电子产品，对于停电、电压变动等是否产生误动作的抗干扰试验器。 | NOISEKEN |
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LSS-F03雷击浪涌模拟试验器 | 模拟雷电引起的大地的电位变动耦合到配电线和通信线上的“大能量感应噪声”，评估电子设备抗扰度的雷击浪涌模拟试验器。 | NOISEKEN |
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FNS-AX4-A20/B63电快速瞬变脉冲群模拟器 | 再现开关等ON/OFF时产生的，高速重复的高频噪声的EMC试验器。再现进入电源线的线路噪声和通信线的感应噪声，用于电子产品的误动作和功能降低等的性能评价。 | NOISEKEN |
