| 照片 | 名称 | 描述 | 品牌 |
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前置放大器 PA 203 BNC set | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器 PA 203 SMA set | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 BNC set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器 PA 303 SMA set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 N set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 306 SMA set | PA306型前置放大器用于放大测量信号，例如高分辨率的近场探头的微弱信号。 | Langer EMV |
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磁场探头 SX-R 20-1 set | SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。 | Langer EMV |
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近场探头组 SX1 set | SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组XF1 set | XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。 | Langer EMV |
