| 照片 | 名称 | 描述 | 品牌 |
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Langer E1 抗干扰开发系统 | E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。 | Langer EMV |
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猝发变压器 | Langer PT4猝发变压器用于高效地对组件和设备进行抗干扰性分析。 | Langer EMV |
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迷你型场脉冲发生器系列 | Langer P1 set迷你型脉冲群发生器的结构小巧，可用于开发过程中排除电子组件的电磁薄弱点 | Langer EMV |
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电快速瞬变脉冲群磁场源组 | Langer H5 IC set BS 06DB-s型磁场源用于生成电快速瞬变脉冲群磁场。 | Langer EMV |
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电快速瞬变脉冲群磁场源组 | Langer H4 IC set BS 06DB-s型磁场源用于生成电快速瞬变脉冲群磁场。 | Langer EMV |
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迷你型磁场脉冲发生器 | Langer P12t set迷你型爆冲场发生器的顶端能够按照耦合钳的原理发射出快速暂态磁场，用来查找模块的薄弱点，是产品研发阶段的排查工具。 | Langer EMV |
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迷你型磁场脉冲发生器 | Langer P11t set迷你爆冲场发生器的顶端能够发射出快速暂态磁场，可用来查找模块的薄弱点，是在研发阶段进行抗干扰性分析的工具。 | Langer EMV |
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迷你型电场脉冲发生器 | Langer P23 set迷你型发生器产生的干扰脉冲，通过发生器的顶端注入到受测集成电路的数字输入端口，判断设备是否符合法律要求的标准抗噪能力。 | Langer EMV |
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Langer E1磁场探头 | 电子设备和电子元件在干扰作用下会产生快速瞬态脉冲磁场，S2探头组中包含的有源和无源磁场探头可以无反馈地测量这些快速瞬态脉冲磁场。 | Langer EMV |
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Langer PA 203 BNC set前置放大器 | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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Langer PA 203 SMA set 前置放大器 | 前置放大器PA 203用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 BNC set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器 PA 303 SMA set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大 | Langer EMV |
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前置放大器PA 303 N set | 前置放大器PA 303用于放大测试信号，例如对高分辨率近场探头的微弱信号进行放大。 | Langer EMV |
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前置放大器PA 306 SMA set | PA306型前置放大器用于放大测量信号，例如高分辨率的近场探头的微弱信号。 | Langer EMV |
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磁场探头 SX-R 20-1 set | SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。 | Langer EMV |
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近场探头组 SX1 set | SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。 | Langer EMV |
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近场探头组XF1 set | XF 1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。 | Langer EMV |
